Kwaliteitstestapparatuur
Kwaliteitsinspectie en controle
Het kwaliteitscontroleproces van Shen-Yueh Technology begint met het inspecteren van binnenkomend materiaal door middel van de eerste-stuk inspectie van online productie en gaat verder met willekeurige inspecties tijdens de productie, evenals uiterlijke inspecties, het verwijderen van bramen en precisie-inspecties zelfs nadat het eindproduct is voltooid. Al deze stappen worden uitgevoerd volgens de ISO 9001-norm, zodat we een inspectierapport kunnen leveren volgens de eisen van elke klant.
Shen-Yueh beschikt over de meest complete testapparatuur om onze klanten beter van dienst te kunnen zijn. Onze inspectieapparatuur biedt niet alleen klanten perfecte, snelle en nauwkeurige reverse engineering diensten, maar ook de meest nauwkeurige kwaliteitsinspecties voor zendingen, waaronder algemene afmetingen, hoogwaardige precisieonderdelen, asrechtheidsmetingen, oppervlakteruwheidsmetingen, filmdiktemetingen voor oppervlaktebehandeling, magnetische inspecties van magnetische producten, bepaling van de oppervlakte-impedantiewaarde en meer.
Shen-Yueh Technology Kwaliteitscontroleproces
Shen-Yueh Technology voert kwaliteitscontrole uit volgens de ISO 9001-norm.
Korte introductie van Shen-Yueh Technology kwaliteitsinspectieapparatuur
| Meetapparatuur | Introductie van metingen |
|---|---|
| 1. Automatisch 3D-scansysteem (Solutionix) | Meetbereik: tot 1000 mm Meetpunt positie: 0.028 mm Kenmerken: Voor reverse engineering, kwaliteitsinspectie, complexe metingen van 3D oppervlakken en gebogen oppervlakken. |
| 2. Hoogwaardige tweedimensionale hoogtemeter meetmachine (MITUTOYO) | Meetbereik: 600 mm Resolutie: 0,01 mm ~ 0,0001 mm Kenmerken: Voor haakse hoeken, rondheid, rechtlijnigheid, diepte en tweedimensionale metingen. |
| 3. 2.5D Optische Beeldmeetinstrument (QVL-250) | Meetbereik: 250 x 150 x 200 mm (X x Y x Z) Resolutie: 0,001 mm Functies: Projectie type meetinstrument, in staat om de lengte, breedte, hoogte, dikte en radiaal te meten;de vergroting van de microscooplens bij de meting is tot 180X, dus het kan ook worden gebruikt voor inspectie van oppervlaktefouten. |
| 4. Dubbel Functie Membraandiktemeter (KETT) | Meetbereik: 0 ~ 2000 um Nauwkeurigheid: 2 um Kenmerken: Om de filmdikte te bepalen na oppervlaktebehandeling van metalen werkstukken. |
| 5. Oppervlakte Impedantie Tester (OHMS) | Meetbereik: 10^3 Ω ~ 10^12 Ω Nauwkeurigheid: +/- 10% Functies: Voor het meten van de oppervlakte-impedantie van materialen of producten. |
| 6. Ruwheidsmeter (TR2000) | Meetbereik: Ra: 0,025μ ~ 12,5μ Nauwkeurigheid: +/- 10% Kenmerken: Voor het meten van de ruwheid van werkstukoppervlakken. |
| 7. Gauss / Magnetometer (Lutron) | Meetbereik: 1.300,00 mT x 0,01 mT 2.3000,0 versus mT x 0,1 mT Nauwkeurigheid: +/- 5% Kenmerken: Om de magnetische kracht van magnetische werkstukken (zoals schijven of trilsensoren) te meten. |
| 8. Precieze schuifmaat met meter en digitale precieze schuifmaat (Mitutoyo) | Meetbereik: 200 mm, 300 mm, 600 mm Nauwkeurigheid: 0,01 mm Functies: Veel gebruikt bij allerlei metingen. |
| 9. Buitendiameter Micrometer (Mitutoyo) | Meetbereik: 0 ~ 25 mm, 25 ~ 50 mm, 50 ~ 75 mm, 75 ~ 100 mm Nauwkeurigheid: 0,01 mm tot 0,001 mm Kenmerken: Voor het meten van buitendiameters met hoge precisie-eisen. |
| 10. Binnendiameter micrometer (Mitutoyo) | Meetbereik: 5 mm ~ 30 mm Nauwkeurigheid: 0,01 mm Kenmerken: Voor het meten van binnendiameters met hoge precisie-eisen. |
Meetapparatuur
3D-meting van de actuele situatie.
Automatisch 3D-scansysteem voor metingen en inspecties van 3D-gebogen oppervlakken.
Om de magnetische kracht van de magnetische producten van klanten nauwkeurig te meten.
Oppervlakteruwheidsmeetinstrument.
Impedantietester, om de impedantiewaarde van ESD-producten nauwkeurig te meten.
Allerlei soorten micrometer-schrijven, om nauwkeurige buitendiameters te meten.
Nauwkeurige schuifmaten van verschillende specificaties.
