0.14 OF 间隙规
CHUCK PIN
我们制造的量测晶圆(WAFER) 0.14 OF间隙规采用PEEK 材质,间隙规前端的厚度最薄可以到0.1mm,且专为半导体与其他高精密制程需求设计,具耐高温至240度C、耐酸碱、耐腐蚀、耐磨损等特性,安全适用于无尘室环境。产品的耐磨损性能确保了长期稳定的使用,搭配轻量化与高精度设计,实现高效测量与固定需求,欢迎联系我们了解更多或获取报价。
产品特点
- 优异的耐高温性能: 可承受高达240度C 的工作环境,适合高温条件下的使用需求。
- 出色的化学稳定性: 对于酸、碱和多数化学品具备极高的抗性,延长使用寿命。
- 尺寸精度高: 适合各类高要求的测量和装置固定用途。
- 卓越的耐磨性能: 材质本身具备抗摩擦能力,在长时间的操作中保持稳定性与完整性。
- 适用于无尘室: 满足半导体及洁净室环境需求。
产品规格
材料 | 厚度规格 | 备注 |
---|---|---|
PEEK (长期耐温度-50℃ ~ 240℃) |
0.10、0.11、0.12、0.13、0.14、0.15、0.16、0.17、0.18、0.19、0.20、0.21、0.22、0.23、0.24、0.25、0.26、0.27、0.28、0.28、0.29、0.30 | “T” 尺寸可以从最小范围0.1 至3.0 进行定制,也可以根据客户的需求尺寸进行调整。 |
- 附件下载