0.14 OF 間隙規
CHUCK PIN
我們製造的量測晶圓(WAFER) 0.14 OF間隙規採用 PEEK 材質,間隙規前端的厚度最薄可以到0.1mm,且專為半導體與其他高精密製程需求設計,具耐高溫至240度C、耐酸鹼、耐腐蝕、耐磨損等特性,安全適用於無塵室環境。產品的耐磨損性能確保了長期穩定的使用,搭配輕量化與高精度設計,實現高效測量與固定需求,歡迎聯繫我們了解更多或獲取報價。
產品特點
- 優異的耐高溫性能: 可承受高達 240度C 的工作環境,適合高溫條件下的使用需求。
- 出色的化學穩定性: 對於酸、鹼和多數化學品具備極高的抗性,延長使用壽命。
- 尺寸精度高: 適合各類高要求的測量和裝置固定用途。
- 卓越的耐磨性能: 材質本身具備抗摩擦能力,在長時間的操作中保持穩定性與完整性。
- 適用於無塵室: 滿足半導體及潔淨室環境需求。
產品規格
材料 | 厚度規格 | 備註 |
---|---|---|
PEEK (長期耐溫度 -50℃ ~ 240℃) | 0.10、0.11、0.12、0.13、0.14、0.15、0.16、0.17、0.18、0.19、0.20、0.21、0.22、0.23、0.24、0.25、0.26、0.27、0.28、0.28、0.29、0.30 | “T” 尺寸可以從最小範圍 0.1 至 3.0 進行定製,也可以根據客戶的需求尺寸進行調整。 |
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