晶圓間隙量測工具
Wafer Jig、Wafer thickness gauges
我們製造的PEEK塑膠晶圓間隙量測工具(Wafer Jig),主要工具使用在量測晶圓的間隙(Gap),提供0.1~3.0mm的間隙厚度選擇,我們的量測工具專門設計來滿足對晶圓間隙精確度的要求。
優點是材料本身擁有耐高溫240度C、良好的耐藥性、低摩擦係數特點,且防止晶圓刮傷的產生。
我們也提供除了PEEK之外的材質選用、客製化尺寸建議,讓您可以根據特定的應用需求作出最佳選擇,歡迎來信與我們聯絡,我們將立即與您聯繫。
產品優點
- 防止晶圓刮傷:因其材質本身的良好耐磨性,在調整間隙時,可以保護晶圓不受到刮傷。
- 耐高溫至240°C:PEEK製程的晶圓量測厚度治具能夠在高達240°C的溫度下保持操作穩定性,確保測量精度不受影響。
- 長壽命:PEEK的良好耐化學性賦予治具在環境下的持久性能,延長使用壽命。
- 重複使用性:其出色的耐用性和穩定性意味著這些治具可以被多次重複使用,有效降低長期成本。
- 良好的耐磨性:PEEK材質的高耐磨性質保證了治具即使在頻繁使用下也能保持性能不衰退,進一步提升了產品的耐久度和可靠性。
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